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自動AI宏觀晶圓檢測
瀏覽器自帶分享功能也很好用哦~將檢查攝像頭整合到SPPE和SPPE-SORT設備中，以自動檢查晶片的任何方麵。
一個低成本、小型化的AI視覺檢測模塊，旨在無縫集成到現有的SPPE和SPPE-SORT係列工藝設備中，為其增加智能化的晶圓宏觀狀態“哨兵”功能，實現 “檢測即服務”。
一個低成本、小型化的AI視覺檢測模塊，旨在無縫集成到現有的SPPE和SPPE-SORT係列工藝設備中，為其增加智能化的晶圓宏觀狀態“哨兵”功能，實現 “檢測即服務”。
產品詳情
自動AI宏觀晶圓檢測
將檢查攝像頭整合到SPPE和SPPE-SORT設備中，以自動檢查晶片的任何方麵。
Cognex InSight ViDi AI/深度學習檢測
完全通用的晶圓檢測
低成本、占地麵積小的宏觀檢測解決方案——設計用於輕鬆插入晶圓廠工藝步驟，以允許使用前列技術進行在線晶圓檢測
按插槽編號顯示通過/失敗結果
設計用於檢測大於0.5mm的宏觀缺陷（劃痕、不需要的工藝標記、不想要的宏觀特征、CMP誤差）
Model | Wafer Size | Description |
SPPE* SPPE*SORT | 150/ 200 mm | Wafer Inspection Cameras for SPPE* &SPPE*SORT series |
自動AI宏觀晶圓檢測
將檢查攝像頭整合到SPPE和SPPE-SORT設備中，以自動檢查晶片的任何方麵。
一個低成本、小型化的AI視覺檢測模塊，旨在無縫集成到現有的SPPE和SPPE-SORT係列工藝設備中，為其增加智能化的晶圓宏觀狀態“哨兵”功能，實現 “檢測即服務”。
一個低成本、小型化的AI視覺檢測模塊，旨在無縫集成到現有的SPPE和SPPE-SORT係列工藝設備中，為其增加智能化的晶圓宏觀狀態“哨兵”功能，實現 “檢測即服務”。
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Cognex InSight ViDi AI/深度學習檢測
完全通用的晶圓檢測
低成本、占地麵積小的宏觀檢測解決方案——設計用於輕鬆插入晶圓廠工藝步驟，以允許使用前列技術進行在線晶圓檢測
按插槽編號顯示通過/失敗結果
設計用於檢測大於0.5mm的宏觀缺陷（劃痕、不需要的工藝標記、不想要的宏觀特征、CMP誤差）
Model | Wafer Size | Description |
SPPE* SPPE*SORT | 150/ 200 mm | Wafer Inspection Cameras for SPPE* &SPPE*SORT series |
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