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多功能拉曼係統
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MantaRay係統通過像差補償光譜設計較大限度地減少了精度失真,特點是將“像差補償”和“全自動校準”兩大核心專利技術結合,這不僅提供了出色的單次測量精度,更保證了不同時間、不同操作者下結果的可比性和重複性,同時通過模塊化設計為用戶提供了極大的定製空間,尤其適合生物醫藥、材料科學(半導體、聚合物、碳材料等)以及化學分析等領域的高標準研究。
產品詳情

MantaRay通過像差補償光譜設計較大限度地減少了精度失真。內置標準燈和自動校準算法可確保保留初始測量設置。 測量結果的高再現性由雙頭旋轉編碼器保證,誤差小於0.003度,易於更換的光柵,內置

矽樣品和引導光束。 激光的路徑被優化為較短距離,這直接影響可持續性和可靠性。為了簡化管理、維護和提高的兼容性,靈活的機械穩定性,采用了緊湊型設計。

測量選項

它采用模塊化係統設計,可與各種商用光學顯微鏡無縫集成,包括標準、融合和倒置類型,並提供三種配置,以滿足各種的應用要求。

探測器

TE 冷卻 CCD

像素尺寸 26x26 μm

有效像素 1024 x 127

高靈敏度 TE 冷卻 CCD 探測器,可選擇 BVF 或 OE 型號


激光模組

支持選擇多達三種激光器:532 nm、633 nm、785 nm 等。 可根據要求提供其他波長(紫外至近紅外範圍:325–785 nm)

通過連續 ND 濾光片控製對激光輸出進行微調

自動激光切換控製 


顯微鏡

物鏡從 5× 到 100×,支持幹浸、水浸和油浸類型

空間分辨率 : 橫向分辨率 < 1 μm (XY),軸向分辨率 < 2.0 μm @ 100×,N.A 0.95

通過精密光學設計實現均勻照明,配備 3M CMOS 相機 


電動顯微鏡 xyz 載物台

行程範圍: 75 × 52 mm

步長:0.05 μm (XY)、0.002 μm (Z)

映射速度:50 × 50 像素 < 1 分鍾(基於 0.01 秒 CCD 曝光時間) 


光譜

250 mm 焦距,像差校正光譜儀

兼容 14 種不同類型的同軸光柵,超越了標準係統的多功能性

光譜分辨率:每個 CCD 像素 1.5 cm⁻¹ @ 1800 gr/nm,532 nm 激光器

光譜分辨率:每個 CCD 像素 2.3 cm⁻¹ @ 1200 gr/nm,532 nm 激光器


自動化

DualTrack™ 自動校準係統 : 內置標準燈和標準樣品,用於連續設備監控和自動校準

全自動控製 : 測量、數據采集和設備設置的自動化,以確保測量條件一致

自動偏振控製和測量:集成偏振控製和測量功能 


按 CCD 型號推薦的應用

BVF(背照式、邊跡抑製)

*優勢 - 高量子效率 (QE),在弱光和近紅外 (NIR) 區域具有出色的靈敏度

*弱點 - 條紋圖案可能出現在 750 nm 以上的 NIR 區域,可能會在分析中引入噪聲

測量近紅外 (NIR) 區域中的微弱拉曼/PL 信號(例如,生物樣品、NIR 拉曼)

OE (開路電極)

*優勢 - 基線穩定,近紅外區域無條紋圖案

*缺點 - 與 BVF 相比,量子效率較低,在 UV 和 NIR 區域的靈敏度較低

適用於可見光範圍內的強拉曼或 PL 信號(例如聚合物、無機材料),尤其是在基線穩定性至關重要的情況下 


按激光波長劃分的應用

生物(細胞、組織)

*推薦激光波長 - 785 nm(低熒光)、633 nm(替代)

*波長選擇標準 - 較大限度地減少生物樣品中的熒光背景


SERS(表麵增強拉曼)

*推薦激光波長 - 532 nm(強增強)、633 nm(較少加熱)

*波長選擇標準 - 532 nm 和 633 nm 通過與金屬納米結構的共振來增強拉曼信號 


材料科學(聚合物、半導體)

*推薦激光波長 - 532 nm、488 nm(高分辨率)

*波長選擇標準 - 高拉曼強度和低熒光可實現高效的信號采集

碳材料(石墨烯、碳納米管)

*推薦激光波長 - 532 nm、633 nm(拉曼效率與熒光權衡)

*波長選擇標準 - 強拉曼散射和中等熒光之間的平衡 


PL 測量(量子點、半導體)

*推薦激光波長 - 325 nm(用於紫外激發)、488 nm(常見於可見光範圍 PL)

*波長選擇標準 - 此波長範圍可有效激發電子躍遷,較短的波長可提供更高的 PL 效率和更寬的測量帶寬。


直觀的用戶界麵

易於使用的界麵,即使對於初次使用的用戶來說,也會感覺自然而直接


測量程序 (Rays-On)

通過幹淨、直觀的界麵進行快速、準確的測量

專為易用性而設計,布局簡單、整潔。

快速訪問結果並與 Data Gallery 順利集成。

輕鬆管理和應用個性化設置,以實現一致的測量條件。 


分析程序 (WeVu)

在您的個人 PC 上進行靈活、單獨分析

WeVu 與測量程序分開運行,讓您能夠隨時直接在自己的計算機上分析數據,無需設備。

通過 Data Gallery 輕鬆訪問和查看測量數據。

提供一係列分析工具,通過簡單、直觀的控件實現高效的工作流程。 


頻譜匹配分析(可選)

基於庫的元器件識別

訪問包含 26,000 多個參考光譜的綜合庫,包括來自 Sigma-Aldrich 的數據,涵蓋聚合物、礦物、半導體和法醫材料。

使所有級別的用戶都可以輕鬆快速地識別組分並自信地分析混合物。



多功能拉曼係統
多功能拉曼係統
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MantaRay係統通過像差補償光譜設計較大限度地減少了精度失真,特點是將“像差補償”和“全自動校準”兩大核心專利技術結合,這不僅提供了出色的單次測量精度,更保證了不同時間、不同操作者下結果的可比性和重複性,同時通過模塊化設計為用戶提供了極大的定製空間,尤其適合生物醫藥、材料科學(半導體、聚合物、碳材料等)以及化學分析等領域的高標準研究。
產品詳情

MantaRay通過像差補償光譜設計較大限度地減少了精度失真。內置標準燈和自動校準算法可確保保留初始測量設置。 測量結果的高再現性由雙頭旋轉編碼器保證,誤差小於0.003度,易於更換的光柵,內置

矽樣品和引導光束。 激光的路徑被優化為較短距離,這直接影響可持續性和可靠性。為了簡化管理、維護和提高的兼容性,靈活的機械穩定性,采用了緊湊型設計。

測量選項

它采用模塊化係統設計,可與各種商用光學顯微鏡無縫集成,包括標準、融合和倒置類型,並提供三種配置,以滿足各種的應用要求。

探測器

TE 冷卻 CCD

像素尺寸 26x26 μm

有效像素 1024 x 127

高靈敏度 TE 冷卻 CCD 探測器,可選擇 BVF 或 OE 型號


激光模組

支持選擇多達三種激光器:532 nm、633 nm、785 nm 等。 可根據要求提供其他波長(紫外至近紅外範圍:325–785 nm)

通過連續 ND 濾光片控製對激光輸出進行微調

自動激光切換控製 


顯微鏡

物鏡從 5× 到 100×,支持幹浸、水浸和油浸類型

空間分辨率 : 橫向分辨率 < 1 μm (XY),軸向分辨率 < 2.0 μm @ 100×,N.A 0.95

通過精密光學設計實現均勻照明,配備 3M CMOS 相機 


電動顯微鏡 xyz 載物台

行程範圍: 75 × 52 mm

步長:0.05 μm (XY)、0.002 μm (Z)

映射速度:50 × 50 像素 < 1 分鍾(基於 0.01 秒 CCD 曝光時間) 


光譜

250 mm 焦距,像差校正光譜儀

兼容 14 種不同類型的同軸光柵,超越了標準係統的多功能性

光譜分辨率:每個 CCD 像素 1.5 cm⁻¹ @ 1800 gr/nm,532 nm 激光器

光譜分辨率:每個 CCD 像素 2.3 cm⁻¹ @ 1200 gr/nm,532 nm 激光器


自動化

DualTrack™ 自動校準係統 : 內置標準燈和標準樣品,用於連續設備監控和自動校準

全自動控製 : 測量、數據采集和設備設置的自動化,以確保測量條件一致

自動偏振控製和測量:集成偏振控製和測量功能 


按 CCD 型號推薦的應用

BVF(背照式、邊跡抑製)

*優勢 - 高量子效率 (QE),在弱光和近紅外 (NIR) 區域具有出色的靈敏度

*弱點 - 條紋圖案可能出現在 750 nm 以上的 NIR 區域,可能會在分析中引入噪聲

測量近紅外 (NIR) 區域中的微弱拉曼/PL 信號(例如,生物樣品、NIR 拉曼)

OE (開路電極)

*優勢 - 基線穩定,近紅外區域無條紋圖案

*缺點 - 與 BVF 相比,量子效率較低,在 UV 和 NIR 區域的靈敏度較低

適用於可見光範圍內的強拉曼或 PL 信號(例如聚合物、無機材料),尤其是在基線穩定性至關重要的情況下 


按激光波長劃分的應用

生物(細胞、組織)

*推薦激光波長 - 785 nm(低熒光)、633 nm(替代)

*波長選擇標準 - 較大限度地減少生物樣品中的熒光背景


SERS(表麵增強拉曼)

*推薦激光波長 - 532 nm(強增強)、633 nm(較少加熱)

*波長選擇標準 - 532 nm 和 633 nm 通過與金屬納米結構的共振來增強拉曼信號 


材料科學(聚合物、半導體)

*推薦激光波長 - 532 nm、488 nm(高分辨率)

*波長選擇標準 - 高拉曼強度和低熒光可實現高效的信號采集

碳材料(石墨烯、碳納米管)

*推薦激光波長 - 532 nm、633 nm(拉曼效率與熒光權衡)

*波長選擇標準 - 強拉曼散射和中等熒光之間的平衡 


PL 測量(量子點、半導體)

*推薦激光波長 - 325 nm(用於紫外激發)、488 nm(常見於可見光範圍 PL)

*波長選擇標準 - 此波長範圍可有效激發電子躍遷,較短的波長可提供更高的 PL 效率和更寬的測量帶寬。


直觀的用戶界麵

易於使用的界麵,即使對於初次使用的用戶來說,也會感覺自然而直接


測量程序 (Rays-On)

通過幹淨、直觀的界麵進行快速、準確的測量

專為易用性而設計,布局簡單、整潔。

快速訪問結果並與 Data Gallery 順利集成。

輕鬆管理和應用個性化設置,以實現一致的測量條件。 


分析程序 (WeVu)

在您的個人 PC 上進行靈活、單獨分析

WeVu 與測量程序分開運行,讓您能夠隨時直接在自己的計算機上分析數據,無需設備。

通過 Data Gallery 輕鬆訪問和查看測量數據。

提供一係列分析工具,通過簡單、直觀的控件實現高效的工作流程。 


頻譜匹配分析(可選)

基於庫的元器件識別

訪問包含 26,000 多個參考光譜的綜合庫,包括來自 Sigma-Aldrich 的數據,涵蓋聚合物、礦物、半導體和法醫材料。

使所有級別的用戶都可以輕鬆快速地識別組分並自信地分析混合物。



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