超高真空開爾文探針

開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置用於導電材料的功函或半導體或絕緣體材料表麵的表麵電勢，表麵功函由材料表麵頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表麵分析技術
，

KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業界高分辨率的測試係統。

UHV-KP020 是超高真空室的一個完美補充工具

，可靠的和可重複的可輕鬆獲得，包括高質量的線性解碼器
，使得探針和樣品的定位變得簡單
， 優異的跟蹤係統在測試過程中始終將探針和樣品恒定的分開。對於

薄膜研究，亞單層範圍檢測是很平常的；也可選購SPV020或SPS030表麵光電壓模塊用於光敏材料研究。

技術參數：

● 功函分辨率1-3meV（2-10mm探針）

● 用戶自定針尺寸（2-10mm）

● 用戶自定探針長度（法蘭到樣品）

● DN40（2.75''安裝端口）-其他可選

● 50mm手動平移器（100mm可選）

● 真空度2X10-11mbar

● 跟蹤係統自動控製樣品和探針距離

● 過零信號檢測係統抑製寄生電容

選件：

● 電動平移器

● UHVSKP

● 絕對UHVSKP

● 表麵光電壓模塊SPV020和SPS030

我司在華南理工大學完成的UHVSKP超高真空開爾文探針已經順利通過該校驗收。各項性能均達到設計需求。