單點開爾文探針

單點開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置,用於測試導電材料的功函或半導體材料表麵的表麵電勢，表麵功函。由材料表麵頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表麵分析技術。

KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業界高分辨率的測試係統。

主要特點：

● 功函分辨率< 3meV

● 手動高度調節

應用領域：

● 有機和非有機半導體

● 金屬

● 薄膜

● 太陽能電池和有機光伏材料

● 腐蝕

升級附件：

● 大氣光子發射係統

● 表麵光電壓(QTH or LED)

● SPS表麵光電壓光譜(400-1000nm)

● 金或不鏽鋼探針
，直徑0.05mm to 20mm

● 相對濕度控製和氮氣環境箱

這款單點開爾文探針是表麵電子分析領域的“精密螺絲刀”。它以相對親和的配置，提供了觸及原子層級的分析靈敏度

，並通過模塊化設計保持了強大的功能擴展性
，是從事材料科學

、新能源
、半導體物理等領域研究的實

驗室的理想入門優異表征設備。