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四點探針
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這款可調節高度四點探針係統是一套高度靈活、高精度的接觸式電學測量工作站。其主要設計目標是在寬溫區範圍內,適應各種尺寸、厚度和形狀的樣品,進行從超導體到絕緣體的寬範圍電阻/電阻率測量。
產品詳情

可調節高度四點探針

多高度探針用於測量各種材料和樣品尺寸。由25厘米寬、29厘米深、0.8厘米厚的硬質陽極氧化鋁底座組成。一根直徑為19mm、高度為20cm的不鏽鋼柱(用螺絲固定在底座上)支撐探頭的升降機構,包括垂直滑動、操

作(zuo)杆(gan)軸(zhou)和(he)微(wei)型(xing)開(kai)關(guan)。垂(chui)直(zhi)滑(hua)動(dong)帶(dai)著(zhe)探(tan)頭(tou),由(you)夾(jia)緊(jin)螺(luo)釘(ding)固(gu)定(ding)。探(tan)針(zhen)頭(tou)的(de)位(wei)置(zhi)應(ying)確(que)保(bao)在(zai)探(tan)針(zhen)接(jie)觸(chu)之(zhi)前(qian),微(wei)動(dong)開(kai)關(guan)不(bu)會(hui)通(tong)過(guo)電(dian)流(liu)。丟(diu)失(shi)動(dong)作(zuo)確(que)保(bao)在(zai)探(tan)頭(tou)升(sheng)起(qi)之(zhi)前(qian)切(qie)斷(duan)電(dian)流(liu)。探(tan)針(zhen)臂(bi)可(ke)以(yi)很(hen)容(rong)易(yi)地(di)定(ding)位(wei)在(zai)垂(chui)直(zhi)軸(zhou)上(shang)的(de)不(bu)同(tong)高(gao)度(du),以(yi)允(yun)

許對扁平材料或大或厚材料進行探測。例如,可以將熱夾頭或含有ln2的淺盤放置在底板上,並且可以將臂放置在允許將探針降低到浸沒在液氮中或放置在加熱階段的樣品上的位置。多高度探針可用於測量10x 10〃以

下的晶片或更大的材料(或具有相同價格的12x 12〃工作區)、鋼錠和高達6〃的材料。更長的柱選項允許測量更高的材料。多高度探頭包括一個圓柱形探頭頭。

圓柱形探頭

圓柱形探頭,其中一個與多高度探頭一起提供,在標準配置下,可承受77K120C的溫度。對圓柱形探頭的修改將使其能夠承受77K200C的溫度(在烤箱中)。多高度探頭保守地限製在80攝氏度,但是,如果采取了

某些預防措施,使用熱板可使溫度達到300攝氏度。圓柱探頭的質量和精度都達到了很高的標準。

控製器是專門為四點探針測量而設計的一種電子儀器。它具有精度高、範圍廣和許多簡化四點探測測量的特點。以下是該試驗裝置的特點:

控製器的麵電阻範圍為1毫歐/平方(10^-3)到5 x 10^8歐姆/平方,精度為0.3%。體積電阻率範圍是從1毫歐姆厘米(10^-3)到10^6歐姆厘米,然而,該電阻率範圍是指直接測量大塊材料,而不是測量薄膜並使用軟件轉

換為體積電阻率。例如,可以測量厚度達16微米的薄層銅(1.68 x 10^-6 ohm-cm)。如果進入膜厚,控製器可以確定體積電阻率值。

控製器包括PC控製軟件,可用於測量記錄(以csv格式存儲數據),並可將測量值保存為板電阻或體積電阻率。

顯示器讀取輸入電流以及每平方歐姆(片電阻)、歐姆厘米(體積電阻)或毫伏,無需使用隨附的PC軟件。體積電阻率讀數需要輸入晶片或薄膜的厚度,或者如果測量大塊樣品,則需要輸入間距。

控製器具有板載非易失性存儲器,因此可以在內部存儲多達50個測量值,然後使用軟件一次下載並保存所有測量值。或者,每個測量值都可以保存到PC上,因為它是使用隨附的軟件進行的。

控製器有一個自動範圍按鈕,可用於自動確定給定材料的輸入電流,而無需使用試錯法。

並具有前進(FWD)和後退(REV)按(an)鈕(niu),可(ke)反(fan)轉(zhuan)電(dian)流(liu)方(fang)向(xiang)。確(que)定(ding)測(ce)量(liang)值(zhi)是(shi)否(fou)有(you)效(xiao)的(de)一(yi)種(zhong)常(chang)見(jian)方(fang)法(fa)是(shi)反(fan)轉(zhuan)電(dian)流(liu)方(fang)向(xiang),然(ran)後(hou)檢(jian)查(zha)正(zheng)向(xiang)和(he)反(fan)向(xiang)電(dian)壓(ya)讀(du)數(shu)是(shi)否(fou)關(guan)聯(lian)良(liang)好(hao),即(ji),數(shu)值(zhi)應(ying)相(xiang)似(si),但(dan)反(fan)向(xiang)電(dian)流(liu)電(dian)壓(ya)為(wei)負(fu)值(zhi)。

允許輸入需要根據尺寸校正的樣本的校正係數。

具有日期和時間戳功能

與可選的AFPP電動Z運動臂連接

優越的電流源

10na100ma99.999ma)電流源可選輸入

這款四點探針係統是材料電學實驗室的 “全能型工作馬” 。它用非接觸測量的便捷性,換來了優異的樣品適應性、極高的測量精度和寬泛的實驗條件範圍。對於需要處理多樣化的、非常規的樣品,並追求精確、可靠

電阻數據的研發與質檢場景,它是理想的選擇。


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這款可調節高度四點探針係統是一套高度靈活、高精度的接觸式電學測量工作站。其主要設計目標是在寬溫區範圍內,適應各種尺寸、厚度和形狀的樣品,進行從超導體到絕緣體的寬範圍電阻/電阻率測量。
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可調節高度四點探針

多高度探針用於測量各種材料和樣品尺寸。由25厘米寬、29厘米深、0.8厘米厚的硬質陽極氧化鋁底座組成。一根直徑為19mm、高度為20cm的不鏽鋼柱(用螺絲固定在底座上)支撐探頭的升降機構,包括垂直滑動、操

作(zuo)杆(gan)軸(zhou)和(he)微(wei)型(xing)開(kai)關(guan)。垂(chui)直(zhi)滑(hua)動(dong)帶(dai)著(zhe)探(tan)頭(tou),由(you)夾(jia)緊(jin)螺(luo)釘(ding)固(gu)定(ding)。探(tan)針(zhen)頭(tou)的(de)位(wei)置(zhi)應(ying)確(que)保(bao)在(zai)探(tan)針(zhen)接(jie)觸(chu)之(zhi)前(qian),微(wei)動(dong)開(kai)關(guan)不(bu)會(hui)通(tong)過(guo)電(dian)流(liu)。丟(diu)失(shi)動(dong)作(zuo)確(que)保(bao)在(zai)探(tan)頭(tou)升(sheng)起(qi)之(zhi)前(qian)切(qie)斷(duan)電(dian)流(liu)。探(tan)針(zhen)臂(bi)可(ke)以(yi)很(hen)容(rong)易(yi)地(di)定(ding)位(wei)在(zai)垂(chui)直(zhi)軸(zhou)上(shang)的(de)不(bu)同(tong)高(gao)度(du),以(yi)允(yun)

許對扁平材料或大或厚材料進行探測。例如,可以將熱夾頭或含有ln2的淺盤放置在底板上,並且可以將臂放置在允許將探針降低到浸沒在液氮中或放置在加熱階段的樣品上的位置。多高度探針可用於測量10x 10〃以

下的晶片或更大的材料(或具有相同價格的12x 12〃工作區)、鋼錠和高達6〃的材料。更長的柱選項允許測量更高的材料。多高度探頭包括一個圓柱形探頭頭。

圓柱形探頭

圓柱形探頭,其中一個與多高度探頭一起提供,在標準配置下,可承受77K120C的溫度。對圓柱形探頭的修改將使其能夠承受77K200C的溫度(在烤箱中)。多高度探頭保守地限製在80攝氏度,但是,如果采取了

某些預防措施,使用熱板可使溫度達到300攝氏度。圓柱探頭的質量和精度都達到了很高的標準。

控製器是專門為四點探針測量而設計的一種電子儀器。它具有精度高、範圍廣和許多簡化四點探測測量的特點。以下是該試驗裝置的特點:

控製器的麵電阻範圍為1毫歐/平方(10^-3)到5 x 10^8歐姆/平方,精度為0.3%。體積電阻率範圍是從1毫歐姆厘米(10^-3)到10^6歐姆厘米,然而,該電阻率範圍是指直接測量大塊材料,而不是測量薄膜並使用軟件轉

換為體積電阻率。例如,可以測量厚度達16微米的薄層銅(1.68 x 10^-6 ohm-cm)。如果進入膜厚,控製器可以確定體積電阻率值。

控製器包括PC控製軟件,可用於測量記錄(以csv格式存儲數據),並可將測量值保存為板電阻或體積電阻率。

顯示器讀取輸入電流以及每平方歐姆(片電阻)、歐姆厘米(體積電阻)或毫伏,無需使用隨附的PC軟件。體積電阻率讀數需要輸入晶片或薄膜的厚度,或者如果測量大塊樣品,則需要輸入間距。

控製器具有板載非易失性存儲器,因此可以在內部存儲多達50個測量值,然後使用軟件一次下載並保存所有測量值。或者,每個測量值都可以保存到PC上,因為它是使用隨附的軟件進行的。

控製器有一個自動範圍按鈕,可用於自動確定給定材料的輸入電流,而無需使用試錯法。

並具有前進(FWD)和後退(REV)按(an)鈕(niu),可(ke)反(fan)轉(zhuan)電(dian)流(liu)方(fang)向(xiang)。確(que)定(ding)測(ce)量(liang)值(zhi)是(shi)否(fou)有(you)效(xiao)的(de)一(yi)種(zhong)常(chang)見(jian)方(fang)法(fa)是(shi)反(fan)轉(zhuan)電(dian)流(liu)方(fang)向(xiang),然(ran)後(hou)檢(jian)查(zha)正(zheng)向(xiang)和(he)反(fan)向(xiang)電(dian)壓(ya)讀(du)數(shu)是(shi)否(fou)關(guan)聯(lian)良(liang)好(hao),即(ji),數(shu)值(zhi)應(ying)相(xiang)似(si),但(dan)反(fan)向(xiang)電(dian)流(liu)電(dian)壓(ya)為(wei)負(fu)值(zhi)。

允許輸入需要根據尺寸校正的樣本的校正係數。

具有日期和時間戳功能

與可選的AFPP電動Z運動臂連接

優越的電流源

10na100ma99.999ma)電流源可選輸入

這款四點探針係統是材料電學實驗室的 “全能型工作馬” 。它用非接觸測量的便捷性,換來了優異的樣品適應性、極高的測量精度和寬泛的實驗條件範圍。對於需要處理多樣化的、非常規的樣品,並追求精確、可靠

電阻數據的研發與質檢場景,它是理想的選擇。


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