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團簇離子束飛行時間二次離子質譜儀
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該gai設she備bei是shi動dong態tai飛fei行xing時shi間jian二er次ci離li子zi質zhi譜pu係xi統tong,為wei質zhi譜pu成cheng像xiang技ji術shu的de新xin範fan式shi。它ta通tong過guo采cai用yong直zhi流liu主zhu離li子zi束shu與yu創chuang新xin性xing的de飛fei行xing時shi間jian分fen析xi儀yi設she計ji,成cheng功gong解jie決jue了le傳chuan統tongSIMS在成像速度、質量分辨率與高分子分析能力之間的固有矛盾,能夠實現快速、連續、高分辨的二維成像與三維深度剖麵分析,尤其擅長於高分子材料、生物組織和有機電子器件等複雜樣品的表麵與界麵分子信息解析。
產品詳情

全球前沿的動態TOF-SIMS係統,它使用直流主束和創新性的飛行時間分析儀,創建了成像質譜的新範式。直流一次離子束的使用允許快速成像和連續數據采集(即沒有單獨的蝕刻周期),同時提供高空間和質量分

辨率。

獨有的特點:

離子束帶來高分子量分析和高空間分辨率

四種離子束可選擇

用氣體團簇離子束SIMS,可以分析高達3000Da的分子量

無“單一蝕刻”循環的深度剖麵。

快速、連續采集

冷樣品處理

氣敏和冷凍樣品,可配置手套箱

高級數據查看功能

可以配備一係列用於分析的離子束,包括40kV C60、40kV70kV氣體團簇離子束和25kV金離子束,使其成為大部分材料分析的理想解決方案。團簇離子束使有機物的分析不需要碎裂,顯示出高達3000Da的分子量,具有良好的靈敏度。分析儀是一個雙聚焦組合,由一個成形的場聚束器和一個非線性反射管組成,提供低於5ppm的質量精度和MS-MS操(cao)作(zuo)。獨(du)特(te)特(te)性(xing)使(shi)其(qi)成(cheng)為(wei)粗(cu)糙(cao)表(biao)麵(mian)樣(yang)品(pin)分(fen)析(xi)的(de)理(li)想(xiang)選(xuan)擇(ze),在(zai)高(gao)度(du)變(bian)化(hua)數(shu)百(bai)微(wei)米(mi)的(de)樣(yang)品(pin)中(zhong)保(bao)持(chi)一(yi)致(zhi)的(de)質(zhi)量(liang)校(xiao)準(zhun)和(he)質(zhi)量(liang)精(jing)度(du)。通(tong)過(guo)冷(leng)樣(yang)品(pin)處(chu)理(li)、便於分析冷凍水化或凍幹樣品的原位冷凍破裂係統和處理空氣敏感樣品的手套箱,為您提供了比以往任何時候都更多的

樣品分析工具。

我們係統是SIMSyiqizhongdeyigexingainian,qishejizhuyaoshiweilezaiyixilieyangpinshangshiyongbutongleixingdelizishujinxingfenxi。tongguojiangzhiliangfenxiyuzhulizishuzaiyangpinshangdezuoyongfenli,bimianlezhilianghekongjianfenbianlvyijicaijisulvzhijiandequanheng。

操作時不需要一次離子束的快速脈衝來執行TOF-SIMS。相xiang反fan,它ta使shi用yong一yi個ge獨du特te的de雙shuang聚ju焦jiao飛fei行xing時shi間jian質zhi量liang分fen析xi儀yi,由you一yi個ge成cheng形xing的de場chang聚ju束shu器qi和he一yi個ge非fei線xian性xing反fan射she管guan組zu成cheng。聚ju束shu器qi從cong碰peng撞zhuang冷leng卻que的de二er次ci離li子zi中zhong提ti取qu一yi部bu分fen,並bing對dui其qi進jin

行壓縮以形成時間焦點。在聚束器之後放置一個非線性反射管,以提供第二個飛行時間段。與傳統的TOF相比,這種設計有許多好處——由於質譜儀與主束和樣品完全分離,質量分辨率和質量精度都與主束或樣品類型

無關——使您在所有樣品和主束類型上都具有一致的性能。

不bu依yi賴lai於yu一yi次ci離li子zi束shu的de快kuai速su脈mai衝chong提ti供gong時shi間jian參can考kao,因yin此ci儀yi器qi上shang的de任ren何he束shu都dou可ke以yi用yong於yu分fen析xi,而er不bu會hui影ying響xiang性xing能neng。此ci外wai,每mei束shu光guang可ke以yi在zai其qi直zhi流liu光guang斑ban尺chi寸cun下xia使shi用yong,因yin此ci質zhi量liang分fen辨bian率lv和he空kong間jian分fen辨bian率lv之zhi間jian都dou是shi較jiao優you化hua的de。

腔室上

可包括3種離子束。選擇包括金,C60,氣體團簇,和等離子體-每一個適合特定的樣品類型或實驗,如下所示。

離子束

能量

束斑大小


25kV

<150nm

高空間分辨率,導致明顯的碎片。是硬質材料的理想選擇。

60 (C60)

40kV

<300nm

在任何材料上均勻濺射,碎裂度低,理想值可達1kDa

氣體團簇

Ar/CO2/H2O

40kV, 70kV

<1um

有機物的高濺射率,任何束流的低碎片,是生物成像的理想選擇。

雙等離子體發射源 (Ar/O2/N2/Cs)

30kV

<300nm

高亮度光源,是無機材料的理想選擇。氧束提高正離子產率,Cs提高負離子產率。

 

質量校準和精度

zhiliangxiaozhunhezhiliangjingduzhishizhipuyideyigegongneng,bushouyangpinhuoyicilizishudeyingxiang。zheyiweizheyangpingaoduhuochongdianzhuangtaidebianhuabuhuigaibianxiaozhunhuozhiliangjingdu,zheyuqitaTOF儀器不同。這種能力使得對大樣本、高結構樣本和充電樣本的分析更加簡單。

分析的樣品麵積為2200μm x 2200μm

 

擴展質量範圍

諸如Bi3+的常規離子束在撞擊時引起表麵分子的明顯碎裂,具有可達約500Da的可用質量範圍,並產生複雜的碎片光譜以進行分析。然而,對於許多實驗來說,感興趣的物種遠遠不止於此。像C60這樣的團簇離子束和大的氣體團簇產生的碎片要少得多,將這個可用的質量範圍擴大到3000Da。由you於yu主zhu離li子zi束shu束shu被bei優you化hua用yong於yu成cheng像xiang,將jiang高gao分fen辨bian率lv成cheng像xiang與yu高gao質zhi量liang分fen子zi物wu種zhong的de質zhi譜pu分fen析xi相xiang結jie合he,具ju有you獨du特te的de位wei置zhi來lai開kai發fa這zhe些xie團tuan簇cu離li子zi束shu的de供gong給gei特te性xing。

 

高質量成像SIMS

在該 SIMS中,成像模式和分析模式之間沒有區別——離li子zi束shu總zong是shi為wei成cheng像xiang而er優you化hua,並bing且qie每mei個ge獲huo得de的de像xiang素su都dou包bao含han一yi個ge完wan整zheng的de光guang譜pu。主zhu要yao變bian量liang是shi主zhu離li子zi束shu的de選xuan擇ze,它ta決jue定ding了le橫heng向xiang分fen辨bian力li的de極ji限xian和he實shi驗yan的de可ke觀guan測ce質zhi量liang範fan圍wei。

利用GCIB-SM,我們將氣體團簇離子束的橫向分辨能力擴展到1μm,使脂類、神經節苷脂和許多其他代謝重要分子的空間分辨力比以往任何時候都要高!

 

深度剖麵

 SIMS非fei常chang適shi合he於yu樣yang品pin的de深shen度du剖pou麵mian分fen析xi。使shi用yong直zhi流liu離li子zi束shu進jin行xing分fen析xi的de一yi個ge重zhong要yao方fang麵mian是shi,不bu需xu要yao將jiang蝕shi刻ke離li子zi束shu與yu分fen析xi離li子zi束shu交jiao錯cuo。為wei了le能neng夠gou在zai合he理li的de時shi間jian尺chi度du上shang生sheng成cheng3D圖像,並去除受損的亞表麵層,傳統的TOF實驗使用了交錯成像和蝕刻循環,這些循環浪費了寶貴的樣品。在使用C60+或(CO2n/Arn+等連續分析離子束,分析和低損傷刻蝕是連續和並行的,因此沒有數據丟失,所有材料都被采樣,使我們 SIMS成為一個非常精確的深度剖麵分析工具。

 

分析粗糙表麵的樣品

在我們 SIMSzhong,zhiliangxiaozhunbuyilaiyuyangpingaodu。youyuzhiliangfenbianlvbushoutiququyutiaojiandeyingxiang,yincijishizaiyangpinbiaomianchengjiaodudeqingkuangxia,yehuiyouhuatiquguangxueyuanjianyishixiangaoxiaocaiji。

 

MS/MS分析

有時質量精度和質量分辨率不足以識別特定的感興趣峰。在這種情況下,MS/MS分析可用於選擇感興趣的質量並將其碎裂,從而產生特征質譜。該操作模式直接內置於SIMS雙級分析儀中。通過向接近一個焦點的飛行

管中注入氣體,由定時離子門選擇的穩定分子離子通過碰撞誘導離解(CID)破碎,產生該物種的特征MS/MS

 

溫度和大氣控製的多功能樣品處理

 SIMS上的多功能樣品處理係統可以分析多種樣品類型。儀器配備液氮冷卻裝置,以便對揮發性樣品進行分析——冷卻裝置適用於主樣品階段和樣品插入鎖。相反,樣品台也可以加熱到600 K

儀器配有手套箱,用

於在幹燥氣體下製備和插入空氣/水敏感樣品,並防止冷卻過程中結冰。由於小容量負載鎖定和高泵送速度,樣品插入很快。


冷試樣斷裂“捕鼠器”裝zhuang置zhi可ke用yong於yu真zhen空kong和he冷leng卻que條tiao件jian下xia的de試shi樣yang斷duan裂lie。液ye體ti懸xuan浮fu液ye的de樣yang品pin可ke以yi夾jia在zai金jin屬shu鉸jiao鏈lian的de兩liang個ge麵mian之zhi間jian。一yi旦dan凍dong結jie,組zu件jian就jiu可ke以yi在zai冷leng卻que狀zhuang態tai下xia轉zhuan移yi到dao真zhen空kong狀zhuang態tai,一yi旦dan在zai真zhen空kong狀zhuang態tai下xia,設she備bei就jiu被bei觸chu發fa打da開kai並bing呈cheng

現兩個幹淨、未解凍、斷裂的表麵以供分析。



團簇離子束飛行時間二次離子質譜儀
團簇離子束飛行時間二次離子質譜儀

團簇離子束飛行時間二次離子質譜儀

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該gai設she備bei是shi動dong態tai飛fei行xing時shi間jian二er次ci離li子zi質zhi譜pu係xi統tong,為wei質zhi譜pu成cheng像xiang技ji術shu的de新xin範fan式shi。它ta通tong過guo采cai用yong直zhi流liu主zhu離li子zi束shu與yu創chuang新xin性xing的de飛fei行xing時shi間jian分fen析xi儀yi設she計ji,成cheng功gong解jie決jue了le傳chuan統tongSIMS在成像速度、質量分辨率與高分子分析能力之間的固有矛盾,能夠實現快速、連續、高分辨的二維成像與三維深度剖麵分析,尤其擅長於高分子材料、生物組織和有機電子器件等複雜樣品的表麵與界麵分子信息解析。
產品詳情

全球前沿的動態TOF-SIMS係統,它使用直流主束和創新性的飛行時間分析儀,創建了成像質譜的新範式。直流一次離子束的使用允許快速成像和連續數據采集(即沒有單獨的蝕刻周期),同時提供高空間和質量分

辨率。

獨有的特點:

離子束帶來高分子量分析和高空間分辨率

四種離子束可選擇

用氣體團簇離子束SIMS,可以分析高達3000Da的分子量

無“單一蝕刻”循環的深度剖麵。

快速、連續采集

冷樣品處理

氣敏和冷凍樣品,可配置手套箱

高級數據查看功能

可以配備一係列用於分析的離子束,包括40kV C60、40kV70kV氣體團簇離子束和25kV金離子束,使其成為大部分材料分析的理想解決方案。團簇離子束使有機物的分析不需要碎裂,顯示出高達3000Da的分子量,具有良好的靈敏度。分析儀是一個雙聚焦組合,由一個成形的場聚束器和一個非線性反射管組成,提供低於5ppm的質量精度和MS-MS操(cao)作(zuo)。獨(du)特(te)特(te)性(xing)使(shi)其(qi)成(cheng)為(wei)粗(cu)糙(cao)表(biao)麵(mian)樣(yang)品(pin)分(fen)析(xi)的(de)理(li)想(xiang)選(xuan)擇(ze),在(zai)高(gao)度(du)變(bian)化(hua)數(shu)百(bai)微(wei)米(mi)的(de)樣(yang)品(pin)中(zhong)保(bao)持(chi)一(yi)致(zhi)的(de)質(zhi)量(liang)校(xiao)準(zhun)和(he)質(zhi)量(liang)精(jing)度(du)。通(tong)過(guo)冷(leng)樣(yang)品(pin)處(chu)理(li)、便於分析冷凍水化或凍幹樣品的原位冷凍破裂係統和處理空氣敏感樣品的手套箱,為您提供了比以往任何時候都更多的

樣品分析工具。

我們係統是SIMSyiqizhongdeyigexingainian,qishejizhuyaoshiweilezaiyixilieyangpinshangshiyongbutongleixingdelizishujinxingfenxi。tongguojiangzhiliangfenxiyuzhulizishuzaiyangpinshangdezuoyongfenli,bimianlezhilianghekongjianfenbianlvyijicaijisulvzhijiandequanheng。

操作時不需要一次離子束的快速脈衝來執行TOF-SIMS。相xiang反fan,它ta使shi用yong一yi個ge獨du特te的de雙shuang聚ju焦jiao飛fei行xing時shi間jian質zhi量liang分fen析xi儀yi,由you一yi個ge成cheng形xing的de場chang聚ju束shu器qi和he一yi個ge非fei線xian性xing反fan射she管guan組zu成cheng。聚ju束shu器qi從cong碰peng撞zhuang冷leng卻que的de二er次ci離li子zi中zhong提ti取qu一yi部bu分fen,並bing對dui其qi進jin

行壓縮以形成時間焦點。在聚束器之後放置一個非線性反射管,以提供第二個飛行時間段。與傳統的TOF相比,這種設計有許多好處——由於質譜儀與主束和樣品完全分離,質量分辨率和質量精度都與主束或樣品類型

無關——使您在所有樣品和主束類型上都具有一致的性能。

不bu依yi賴lai於yu一yi次ci離li子zi束shu的de快kuai速su脈mai衝chong提ti供gong時shi間jian參can考kao,因yin此ci儀yi器qi上shang的de任ren何he束shu都dou可ke以yi用yong於yu分fen析xi,而er不bu會hui影ying響xiang性xing能neng。此ci外wai,每mei束shu光guang可ke以yi在zai其qi直zhi流liu光guang斑ban尺chi寸cun下xia使shi用yong,因yin此ci質zhi量liang分fen辨bian率lv和he空kong間jian分fen辨bian率lv之zhi間jian都dou是shi較jiao優you化hua的de。

腔室上

可包括3種離子束。選擇包括金,C60,氣體團簇,和等離子體-每一個適合特定的樣品類型或實驗,如下所示。

離子束

能量

束斑大小


25kV

<150nm

高空間分辨率,導致明顯的碎片。是硬質材料的理想選擇。

60 (C60)

40kV

<300nm

在任何材料上均勻濺射,碎裂度低,理想值可達1kDa

氣體團簇

Ar/CO2/H2O

40kV, 70kV

<1um

有機物的高濺射率,任何束流的低碎片,是生物成像的理想選擇。

雙等離子體發射源 (Ar/O2/N2/Cs)

30kV

<300nm

高亮度光源,是無機材料的理想選擇。氧束提高正離子產率,Cs提高負離子產率。

 

質量校準和精度

zhiliangxiaozhunhezhiliangjingduzhishizhipuyideyigegongneng,bushouyangpinhuoyicilizishudeyingxiang。zheyiweizheyangpingaoduhuochongdianzhuangtaidebianhuabuhuigaibianxiaozhunhuozhiliangjingdu,zheyuqitaTOF儀器不同。這種能力使得對大樣本、高結構樣本和充電樣本的分析更加簡單。

分析的樣品麵積為2200μm x 2200μm

 

擴展質量範圍

諸如Bi3+的常規離子束在撞擊時引起表麵分子的明顯碎裂,具有可達約500Da的可用質量範圍,並產生複雜的碎片光譜以進行分析。然而,對於許多實驗來說,感興趣的物種遠遠不止於此。像C60這樣的團簇離子束和大的氣體團簇產生的碎片要少得多,將這個可用的質量範圍擴大到3000Da。由you於yu主zhu離li子zi束shu束shu被bei優you化hua用yong於yu成cheng像xiang,將jiang高gao分fen辨bian率lv成cheng像xiang與yu高gao質zhi量liang分fen子zi物wu種zhong的de質zhi譜pu分fen析xi相xiang結jie合he,具ju有you獨du特te的de位wei置zhi來lai開kai發fa這zhe些xie團tuan簇cu離li子zi束shu的de供gong給gei特te性xing。

 

高質量成像SIMS

在該 SIMS中,成像模式和分析模式之間沒有區別——離li子zi束shu總zong是shi為wei成cheng像xiang而er優you化hua,並bing且qie每mei個ge獲huo得de的de像xiang素su都dou包bao含han一yi個ge完wan整zheng的de光guang譜pu。主zhu要yao變bian量liang是shi主zhu離li子zi束shu的de選xuan擇ze,它ta決jue定ding了le橫heng向xiang分fen辨bian力li的de極ji限xian和he實shi驗yan的de可ke觀guan測ce質zhi量liang範fan圍wei。

利用GCIB-SM,我們將氣體團簇離子束的橫向分辨能力擴展到1μm,使脂類、神經節苷脂和許多其他代謝重要分子的空間分辨力比以往任何時候都要高!

 

深度剖麵

 SIMS非fei常chang適shi合he於yu樣yang品pin的de深shen度du剖pou麵mian分fen析xi。使shi用yong直zhi流liu離li子zi束shu進jin行xing分fen析xi的de一yi個ge重zhong要yao方fang麵mian是shi,不bu需xu要yao將jiang蝕shi刻ke離li子zi束shu與yu分fen析xi離li子zi束shu交jiao錯cuo。為wei了le能neng夠gou在zai合he理li的de時shi間jian尺chi度du上shang生sheng成cheng3D圖像,並去除受損的亞表麵層,傳統的TOF實驗使用了交錯成像和蝕刻循環,這些循環浪費了寶貴的樣品。在使用C60+或(CO2n/Arn+等連續分析離子束,分析和低損傷刻蝕是連續和並行的,因此沒有數據丟失,所有材料都被采樣,使我們 SIMS成為一個非常精確的深度剖麵分析工具。

 

分析粗糙表麵的樣品

在我們 SIMSzhong,zhiliangxiaozhunbuyilaiyuyangpingaodu。youyuzhiliangfenbianlvbushoutiququyutiaojiandeyingxiang,yincijishizaiyangpinbiaomianchengjiaodudeqingkuangxia,yehuiyouhuatiquguangxueyuanjianyishixiangaoxiaocaiji。

 

MS/MS分析

有時質量精度和質量分辨率不足以識別特定的感興趣峰。在這種情況下,MS/MS分析可用於選擇感興趣的質量並將其碎裂,從而產生特征質譜。該操作模式直接內置於SIMS雙級分析儀中。通過向接近一個焦點的飛行

管中注入氣體,由定時離子門選擇的穩定分子離子通過碰撞誘導離解(CID)破碎,產生該物種的特征MS/MS

 

溫度和大氣控製的多功能樣品處理

 SIMS上的多功能樣品處理係統可以分析多種樣品類型。儀器配備液氮冷卻裝置,以便對揮發性樣品進行分析——冷卻裝置適用於主樣品階段和樣品插入鎖。相反,樣品台也可以加熱到600 K

儀器配有手套箱,用

於在幹燥氣體下製備和插入空氣/水敏感樣品,並防止冷卻過程中結冰。由於小容量負載鎖定和高泵送速度,樣品插入很快。


冷試樣斷裂“捕鼠器”裝zhuang置zhi可ke用yong於yu真zhen空kong和he冷leng卻que條tiao件jian下xia的de試shi樣yang斷duan裂lie。液ye體ti懸xuan浮fu液ye的de樣yang品pin可ke以yi夾jia在zai金jin屬shu鉸jiao鏈lian的de兩liang個ge麵mian之zhi間jian。一yi旦dan凍dong結jie,組zu件jian就jiu可ke以yi在zai冷leng卻que狀zhuang態tai下xia轉zhuan移yi到dao真zhen空kong狀zhuang態tai,一yi旦dan在zai真zhen空kong狀zhuang態tai下xia,設she備bei就jiu被bei觸chu發fa打da開kai並bing呈cheng

現兩個幹淨、未解凍、斷裂的表麵以供分析。



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